사단법인 한국표면분석학회

The Korea Society of Surface Analysis

기초기술위원회

다각형아이콘기초기술위원장 및 부위원장

직책 성명 소속
기초기술위원장 김윤석 성균관대학교
부위원장 김정용 성균관대학교

다각형아이콘기초기술위원

위원 김기정(포항가속기연구소), 김성헌(전북대학교), 김홍규(한국과학기술연구원), 서용호(세종대학교), 신태주(UNIST), 안상민(전북대학교), 양상모(서강대학교), 양준모(나노종합기술원), 유규상(HB 솔루션), 유현웅(한국표준과학연구원), 육종민(한국과학기술원), 이만희(충북대학교), 이봉호(대구경북과학기술원), 이주한(한국기초과학지원연구원), 전상준(중앙대학교), 최시영(포항공과대학교), 홍태은(한국기초과학지원연구원)

다각형아이콘기초기술 분과 위원

전자 기술 분과 이주한 분과위원장(한국기초과학지원연구원)
광전자분광기술 부문 이주한(한국기초과학지원연구원), 이현복(강원대학교)
전자현미경기술 부문 양준모(나노종합기술원), 박주철(구미전자정보기술원), 박영길(삼성디스플레이), 조복래(모듈싸이)
방사광기술 부문 김기정(포항가속기연구소), 백재윤(포항가속기연구소), 윤영상(영남대학교)
이온 기술 분과 홍태은 분과위원장(한국기초과학지원연구원)
이차이온질량분석 부문 홍태은(한국기초과학지원연구원), 박진규(경상국립대학교), 유호성(SK Hynix), 김철기(AMETEK)
이온산란분광기술 부문 유규상(HB 솔루션), 김준곤(한국과학기술연구원), 박승주(삼성전자)
APT 부문 이봉호(대구경북과학기술원), 설재복(경상국립대학교), 이지영(KIST)
탐침기술분과 김윤석 분과위원장(성균관대학교)
AFM 기술 부문 안상민(전북대학교), 김태곤(한양대학교), 김은파(삼성전자), 서용호(세종대학교), 양상모(서강대학교), 유영준(충남대학교), 조상준(파크시스템스)
SPM 융합기술 부문 이만희(충북대학교), 장정훈(KRISS), 박경덕(포항공과대학교), 최수봉(인천대학교)
Electrical 측정 SPM 기술 부문 김성헌(전북대학교), 김양래(광운대학교)
Atomic Resolution STM 기술 부문 전상준(중앙대학교), 신훈규(POSTECH)
광 기술 분과 김정용 분과위원장(성균관대학교)
IR 분광기술 부문 유현웅(한국표준과학연구원), 채원식(한국기초과학지원연구원)
UV-Vis 분광기술 부문 김정용(성균관대학교), 박경덕(포항공과대학교), 조현모(KRISS)
X-ray 분광기술 부문 신태주(UNIST), 김용일(KRISS), 정정운( ), 박문정(포항공과대학교)

다각형아이콘기초기술위원회 규정

제1조(목적) 본 규정은 한국표면분석학회 정관 제55조 및 규칙 제 9조에 의거 표면분석 기초기술을 육성하고 발전시키기 위하여 기초기술위원회(이하 위원회라 칭함)를 두고 이에 관한 사항을 규정함을 목적으로 한다.
제2조(업무) 위원회는 다음 사항을 수행한다.
1. 표면분석 기초기술의 학문적 발전
2. 표면분석 학술대회, 교육 및 심포지엄 지원
제3조(위원회 구성) 1. 위원회는 위원장 1명, 부위원장 1명 및 15명 내외의 위원으로 구성한다.
2. 기초기술분과 내 부문위원장은 당연직 기초기술위원이 된다.
3. 위원장 및 부위원장은 학회 이사회의 심의를 거친 후 학회장이 임명하며 기초기술이사로 보한다.
4. 위원은 이사회의 인준을 받아 회장이 위촉한다.
제4조(위원장, 부위원장) 1. 위원장은 기획위원회의 제반 사항을 총괄하며 위원회의 의장이 된다.
2. 부위원장은 위원장을 보좌하고 위원장 유고 시 그 직무를 대행한다.
제5조(임기) 위원장, 부위원장 및 위원의 임기는 2년이며 연임될 수 있다.
제6조(회의) 1. 위원회 회의는 필요에 따라 위원장이 소집한다.
2. 회의는 재적 위원 과반수 참석으로 성립하며, 출석위원 과반수의 찬성으로 의결한다.
3. 가부 동수의 경우는 의장이 결정한다.
제7조(의견 청취) 제2조의 업무의 효율적인 진행을 위해 해당 부서 또는 해당 위원회의 위원을 출석 요청하여 의견을 청취할 수 있다.
부 칙 1. 본 규정은 2022년 6월 1일부터 시행한다.